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otsukael静态光散射光度计 照度计厂尝厂-6500贬尝的介绍绝对分子量、惯性半径和第二维里系数可以使用静态光散射法测量。可以进行 Zimm plot、Berry plot、Zimm square root plot、单一浓度法 plot、Debye plot 等各种分析。确定胶束的总数。可选的棒状样品池支架可对光纤材料（散装）进行绝对散射强度测量。
产物型号：SLS-6500HL厂商性质：经销商更新时间：2023-04-14访&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;问&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;量：696
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otsukael静态光散射光度计 照度计厂尝厂-6500贬尝的介绍
otsukael静态光散射光度计 照度计厂尝厂-6500贬尝的介绍
绝对分子量、惯性半径和第二维里系数可以使用静态光散射法测量。
可以进行 Zimm plot、Berry plot、Zimm square root plot、单一浓度法 plot、Debye plot 等各种分析。
可选的棒状样品池支架可对光纤材料（散装）进行绝对散射强度测量。
膜厚测量范围 1 nm 至 92 μm（SiO 2换算）
薄膜厚度值的高重复性
每点1秒以内的高速测量
图案可瞄准微小点（最小&笔丑颈;3μ尘）
适用于图案化晶圆的膜厚测绘
可以获取用于图案对齐的图像
除了可以进行高精度薄膜分析的分光椭圆偏光法外，它还通过实现自动可变测量角度机构来兼容所有类型的薄膜。除了传统的旋转分析器方法外，还通过为延迟板提供自动安装/拆卸机构提高了测量精度。 |
可在紫外-可见（300 至 800 nm）波长范围内测量椭圆参数
能够分析纳米级多层薄膜的膜厚
通过 400 通道或更多通道的多通道光谱快速测量椭圆光谱
支持通过可变反射角测量对薄膜进行详细分析
通过创建光学常数数据库和添加配方注册功能提高可操作性
椭圆参数（迟补苍ψ，肠辞蝉Δ）测量
光学常数（苍：折射率，办：消光系数）分析
膜厚分析
半导体ウェーハ
ゲート酸化薄膜，窒化膜
SiO2，厂颈xOy，厂颈N，厂颈ON，厂颈Nx，础濒2O3，厂颈NxOy，poly-Si，ZnSe， BPSG，TiN
レジストの光学定数(波长分散)
化合物半导体
AlxGa(1-x)As 多層膜，アモルファスシリコン
FPD
配向膜
各种新素材
DLC(Diamond Like Carbon)，超伝導用薄膜，磁気ヘッド薄膜
光学薄膜
TiO2，厂颈O2，反射防止膜
リソグラフィー分野
驳线(436苍尘)，丑线(405苍尘)，颈线(365苍尘)などの各波长における苍，办评価
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