紧凑型膜厚监控仪是一种反射分光光度计,使用小型反射探头,适用于从实验室
水平到生产过程中在线100%检测的所有情况。它具有出色的可维护性,可用于过
程设备和生产线管理。
最多可同时测量9种类型的透明薄膜。
它可用作各种多层薄膜工艺的在线或终点监控器。
紧凑型探针可以安装在加工工具内部的小空间中。还可以通过使用贰惭础理论来判
断混合层的混合比或多晶硅的结晶度。
1小型光纤探头[*1] 2 膜厚测定再现性0.1nm以下(3σ)[*2]
6 无线对应(选配件)[*6] 7 透射率测量(可选)[*7] 8
自动映射测量(可选)[*8] 采用 30 mm 的小型探头,可安装在设备内的狭
小空间内。 而且,由于探头到本体只用光纤连接,具有优异的耐环境性。 4 膜质解
析功能 [*4] ·通过有效介质近似(EMA)方法计算混合比 ·结晶性评估,光学常数解
析 5 根据目的选择光源
波长范围 (nm) 430~700 400~900 220~900 对象膜厚范围 (nm) 50 ~ 50,000 50 ~
50,000 10 ~ 30,000 平均寿命 (Hour) >50,000 10,000 1,000 光源式样 白色 LED 卤钨灯
氘·卤素 3 多层膜同时测