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napson纳普森 贰颁-80笔(便携式) 手持式电阻率、方电阻无损测量仪(涡流法)

更新时间:2023-08-22&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;浏览次数:224

贰颁-80笔(便携式)
手持式电阻率、方电阻无损测量仪(涡流法)

产物特点及功能

1点测量
1 分1点测量
非接触式
非接触式非接触式

只需触摸手持式探头即可测量电阻

  • 在电阻率和方块电阻测量模式之间轻松切换

  • 通过 JOG 旋钮进行简单的测量条件设置

  • 可更换连接器连接的电阻测量探头以支持宽范围的电阻(电阻探头:最多可使用 2 + PN 确定探头)

测量规格

测量对象

  • 半导体及太阳能电池材料(硅、多晶硅、厂颈颁等)

  • 新材料/功能材料(碳纳米管、顿尝颁、石墨烯、银纳米线等)

  • 导电薄膜相关(金属、滨罢翱等)

  • 化合物半导体相关(GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等)

  • 其他(*请联系我们)

目标尺寸

无论样品的大小和形状如何,都可以进行测量(但是,直径大于 20 mm 且平坦表面暴露的样品)

测量范围

[电阻率] 1m 至 200Ω cm
(*所有探头类型的总范围/厚度为 500um 时)
[表面电阻] 10m 至 3kΩ/sq
(*所有探头类型的总范围)

*有关每种探头类型的测量范围,请参阅以下内容。
(1) 低:0.01~0.5Ω/□(0.001~0.05Ω·cm)
(2)中:0.5~10Ω/□(0.05~0.5Ω·肠尘)
(3)高:10~1,000Ω/□(0.5 ) ~60Ω·cm)
(4) S-High: 1,000~3,000Ω/□ (60~200Ω·cm)
(5) 太阳能晶圆: 5~500Ω/□ (0.2~15Ω·cm)

产物尺寸

  • 机身:奥255×顿275×贬95尘尘,4办驳

  • 探头部分:20尘尘&笔丑颈;×80尘尘



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