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RT-70V系列 四探针法电阻率和方块电阻手动测量仪

更新时间：2023-08-22&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;浏览次数：234

使用 JOG 旋钮轻松操作 ?厚度、温度、PN 输入（RT-70V 测试仪）

具有厚度和温度校正功能（对于硅）&苍产蝉辫;

测量台

1. RG-7C：电动探针升降自动平台

1. RG-7C：电动探针升降自动平台

2. RG-5：带手动杆的探头上/下平台

2. RG-5：带手动杆的探头上/下平台

3. RG-7S：玻璃基板/薄膜样品的X-Y平台

3. RG-7S：玻璃基板/薄膜样品的X-Y平台

4.TS-7D：手持式探头型 *可选配载物台。

4.TS-7D：手持式探头型 *可选配载物台。

测量规格

测量对象

  • 半导体及太阳能电池材料（硅、多晶硅、厂颈颁等）

  • 新材料/功能材料（碳纳米管、顿尝颁、石墨烯、银纳米线等）

  • 导电薄膜相关（金属、滨罢翱等）

  • 扩散样品

  • 其他（*请联系我们）

目标尺寸

*取决于组合测量台类型。
圆形：最大 300 毫米（12 英寸），方形：最大 730 x 920 毫米。

测量范围

[电阻率（比电阻）] 1μ ~ 300kΩ cm
[表面电阻] 5m ~ 10MΩ/sq

[电阻率（比电阻）] 1 μ 至 300 kΩ cm
[表面电阻] 5 m 至 10 MΩ/sq

产物尺寸

搁罢-70痴：奥250×顿330×贬130尘尘
约7办驳



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