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美国filmetrics 薄膜测量仪贵10-础搁-鲍痴增透膜测量
轻松且经济地测量减反射涂层和硬质涂层
F10-AR 是首的款专为简单、经济实惠的眼科抗反射 (AR) 涂层测量而设计的仪器。 AR 涂层测量仪器的成本只是当今使用的大多数仪器的一小部分,它包含多项专有的技术,使生产线操作员只需经过几分钟的培训,即可在几秒钟内获得结论性的读数。最小、最大和平均反射率可以在任意数量的用户定义的波长范围内进行通过/不通过测试。特殊的算法可以校正由硬涂层引起的局部反射率失真。我们专有的 AutoBaseline 功能可大幅增加基线间隔,其精度比其他基于光纤探头的反射率测量系统高出五倍。测量硬涂层厚度 0。25-15μm,带有我们可选的 UPG-F10-AR-HC 软件升级。即使存在 AR 层,测量硬涂层厚度也没有问题。
无需背面准备
我们独的特的探头设计可在 1.5 毫米厚的基板上抑制 98% 的背面反射,在更厚的透镜上抑制更多。与我们所有的薄膜测量系统一样,F10-AR 可连接到 Windows® 计算机的 USB 端口,并在几分钟内完成设置。
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