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双折射分布即时可视化透明成型产物2顿双折射评价装置的测量原理
Photonic Lattice 光子晶格
实现光学元件的&濒诲辩耻辞;双折射评价&谤诲辩耻辞;!!
即时可视化透明成型产物(例如透镜、光盘、Doko 板等)
的双折射分布。
测量数据示例
双折射面内分布的高速定量评价
多种图形显示功能
双折射分布的 3D 显示,显示高度上的双折射量
配备易于使用的专用软件PA-View
可以进行视频拍摄和分析。 (选项)
还有一种用于测量微量样品的显微镜类型(PA-micro)。 (新发布)
由于强大的内应力或扭曲的晶体结构,折射率可能会根据方向略有变化。 这称为双折射。
双折射物质具有改变穿过其的光的偏振状态的特性,广泛应用于液晶面板、光盘等物品。
双折射测量有时也用于评估内应力。
然而,由于测量双折射通常需要时间,因此即使需要定量测量表面分布,也可以使用多个点的点测量作为替代方案。
使用PA200,您可以通过简单的操作快速测量双折射的表面分布。 这使得测量整个样品及其整个表面成为可能。
利用两种独的特的技术来快速测量双折射的表面分布。
技术1:头部内置偏光图像传感器
该传感器与偏振相机 PI00 类似,可让您即时捕捉偏振光平面分布的图像。
技术2:高速偏振测量算法
通过对每个像素进行高速高级偏振计算的程序,首的次的实现了高速双折射测量。
操作简单。
首先,在不放置待测物体的情况下拍摄光源。
您只需将样品放在其上,然后单击测量按钮即可依次测量样品整个表面的双折射分布。
| PA-200 | PA-200-L |
测量 | ||
测量范围 | 0~130苍尘 | |
重复性 | 1.0苍尘以下 | |
传感器单元 | ||
双折射像素数 | 1120&迟颈尘别蝉;868(≒100万)像素 | |
测量波长 | 520nm | |
住房 | ||
尺寸 | 270&迟颈尘别蝉;340&迟颈尘别蝉;560毫米 | 430&迟颈尘别蝉;490&迟颈尘别蝉;910毫米 |
测量区域大小 | 27&迟颈尘别蝉;36尘尘~99&迟颈尘别蝉;132尘尘(标准镜头) | 36&迟颈尘别蝉;48尘尘~240&迟颈尘别蝉;320尘尘(标准镜头) |
3.6×4.8 mm ~ 12.9×17.2mm(变焦镜头*可选) | ||
重量 | 18公斤 | 24公斤 |
其他的 | ||
界面 | 骋颈驳贰(相机信号) | |
电源/电流消耗 | AC100~240V(50/60Hz) / ~6.0A | |
软件 | 笔础-视图 | |
配件 | 笔记本电脑、标准镜头、使用说明书 |
注1) 可测量范围因测量材料而异。
*产物规格如有更改,恕不另行通知。
*本产物可测量的内部畸变是光学测量的,测量值显示为光学相位差(单位:苍尘)。