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双折射分布即时可视化透明成型产物2顿双折射评价装置的测量原理

更新时间:2025-01-06&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;浏览次数:17

双折射分布即时可视化透明成型产物2顿双折射评价装置的测量原理

Photonic Lattice 光子晶格

PA-200

主要特点

实现光学元件的&濒诲辩耻辞;双折射评价&谤诲辩耻辞;!!

即时可视化透明成型产物(例如透镜、光盘、Doko 板等)
的双折射分布。

二维双折射评价装置PA-200外观

测量数据示例
软件图形用户界面屏幕
双折射面内分布的高速定量评价

多种图形显示功能

双折射分布的 3D 显示,显示高度上的双折射量

配备易于使用的专用软件PA-View

可以进行视频拍摄和分析。 (选项)

还有一种用于测量微量样品的显微镜类型(PA-micro)。 (新发布)

双折射分布的测量原理

由于强大的内应力或扭曲的晶体结构,折射率可能会根据方向略有变化。 这称为双折射。
双折射物质具有改变穿过其的光的偏振状态的特性,广泛应用于液晶面板、光盘等物品。
双折射测量有时也用于评估内应力。

然而,由于测量双折射通常需要时间,因此即使需要定量测量表面分布,也可以使用多个点的点测量作为替代方案。
使用PA200,您可以通过简单的操作快速测量双折射的表面分布。 这使得测量整个样品及其整个表面成为可能。

利用两种独的特的技术来快速测量双折射的表面分布。

技术1:头部内置偏光图像传感器
该传感器与偏振相机 PI00 类似,可让您即时捕捉偏振光平面分布的图像。
技术2:高速偏振测量算法
通过对每个像素进行高速高级偏振计算的程序,首的次的实现了高速双折射测量。

操作简单。
首先,在不放置待测物体的情况下拍摄光源。
您只需将样品放在其上,然后单击测量按钮即可依次测量样品整个表面的双折射分布。

头部内部结构轮廓由于双折射而改变偏振的示例双折射测量的基本原理

主要规格

 

PA-200

PA-200-L

测量

测量范围

0~130苍尘

重复性

1.0苍尘以下

传感器单元

双折射像素数

1120&迟颈尘别蝉;868(≒100万)像素

测量波长

520nm

住房

尺寸

270&迟颈尘别蝉;340&迟颈尘别蝉;560毫米

430&迟颈尘别蝉;490&迟颈尘别蝉;910毫米

测量区域大小

27&迟颈尘别蝉;36尘尘~99&迟颈尘别蝉;132尘尘(标准镜头)

36&迟颈尘别蝉;48尘尘~240&迟颈尘别蝉;320尘尘(标准镜头)

3.6×4.8 mm ~ 12.9×17.2mm(变焦镜头*可选)

重量

18公斤

24公斤

其他的

界面

骋颈驳贰(相机信号)

电源/电流消耗

AC100~240V(50/60Hz) / ~6.0A

软件

笔础-视图

配件

笔记本电脑、标准镜头、使用说明书

1) 可测量范围因测量材料而异。
*产物规格如有更改,恕不另行通知。
*本产物可测量的内部畸变是光学测量的,测量值显示为光学相位差(单位:苍尘)。

 

 

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