SpecMetrix® 离线系统为非接触式、非破坏性薄膜层和涂层的 QA 分析-蜜桃91一区二区三区

SpecMetrix® 离线系统为非接触式、非破坏性薄膜层和涂层的 QA 分析

更新时间：2023-11-14&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;

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质量保证、产物检查和测试

离线实验室工具适计用于简化 QA 过程。

QA 样品测试

SpecMetrix® 离线系统为非接触式、非破坏性薄膜层和涂层的 QA 分析，设立了更高的标准。&苍产蝉辫;我们的技术可在纳米精度下识别和量化薄涂层的厚度缺陷，具有无的与的伦的比的优势。因此，众多行业的全球公司纷纷选择使用我们的技术，作为首的选的鉴定工具。

SpecMetrix 实验室系统能够同时测量单双涂层的厚度，也可以在平面样品和零部件上实时测量独立薄膜层的厚度。超精准的即时测量能力可加快样品测试数据的收集速度。从 QA 实验室到工厂，不管是什么样的制造环境，所有 SpecMetrix 离线配置都可以测量干湿样品。在设置或样品测试中，这一灵活性使检测涂层重量和绝对厚度精确又简便。

实验室系统运输简便，, 便于在工厂的涂装线或工作站之间使用。离线工具能够让生产和过程团队的人员直接获得非接触式单点扫描测量数据。增强后的实验室系统增加了在线测量软件及一个加固探头，结合了离线 QA 样品测试以及在线涂层过程验证功能的优点。这些能力可改进涂层板和成卷带样品的检测，从而优化涂层质量。